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    • 20246-26
      澤攸探針臺:納米科技領(lǐng)域的精準探索者

      在納米科技日益發(fā)展的今天,對微觀(guān)世界的探索已成為科研和工業(yè)領(lǐng)域的重要任務(wù)。澤攸探針臺作為納米科技領(lǐng)域的重要工具,以其高精度、高分辨率和廣泛的適用性,成為了科研人員和企業(yè)工程師的得力助手。本文將詳細介紹它的特點(diǎn)、技術(shù)規格、應用領(lǐng)域及其重要性。一、概述澤攸探針臺是一款高性能納米探針臺,專(zhuān)為納米科學(xué)研究提供良好的儀器支持。該探針臺采用了壓電陶瓷驅動(dòng)技術(shù),具有分辨率高、尺寸緊湊、行程大、操作簡(jiǎn)單等特點(diǎn),能夠在真空環(huán)境下進(jìn)行各種納米精度運動(dòng)操作。它的應用范圍廣泛,包括納米材料操縱、納米...

    • 20246-21
      Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡:精密測量的革新者

      在精密測量領(lǐng)域,技術(shù)的不斷革新推動(dòng)著(zhù)行業(yè)向前發(fā)展。Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡憑借其良好的性能和特殊優(yōu)勢,成為了行業(yè)內的先進(jìn)者。本文將詳細介紹它的使用優(yōu)勢,并通過(guò)具體數據和特點(diǎn)進(jìn)行闡述。一、技術(shù)融合與創(chuàng )新Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡結合了共聚焦和干涉技術(shù),為用戶(hù)提供了測量體驗。該技術(shù)無(wú)需插拔任何硬件,即可在軟件內自動(dòng)實(shí)現共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換,從而使用戶(hù)能夠同時(shí)享受到共聚焦技術(shù)的超高XY向分辨率和干涉技術(shù)的亞納米級Z向分辨率及測量重復性的特點(diǎn)。...

    • 20245-29
      UPC獎勵Sensofar的軌跡實(shí)現

      UPC獎勵Sensofar的軌跡實(shí)現公司獲得了最佳技術(shù)型公司或分拆上面的圖片。Terrassa光學(xué)和視光學(xué)學(xué)院院長(cháng)JoanGispets代表Sensofar接受獎項在著(zhù)名的UPC(加泰羅尼亞理工大學(xué))2019年研究?jì)r(jià)值獎的框架內,該獎項認可了大學(xué)研究團隊在不同調查模式中的工作,我們公司獲得了該類(lèi)別的獎項;技術(shù)型公司或分拆出來(lái)的公司。Sensofar是UPC的第一個(gè)衍生產(chǎn)品之一,自成立以來(lái)經(jīng)歷了積極的增長(cháng)。它與CD6合作森從一開(kāi)始就與表面計量領(lǐng)域有著(zhù)悠久傳統的公司競爭(Zygo...

    • 20245-29
      SHARK項目總結和數字演示

      SHARK項目總結和數字演示我們走過(guò)了漫長(cháng)的道路,森發(fā)作為財團成員加入了SHARK歐盟項目(由歐盟地平線(xiàn)2020框架計劃的研究和創(chuàng )新資金支持,贈款協(xié)議編號768701),目前正接近項目的尾聲。該項目的目的是證明,它可以工業(yè)化的激光功能紋理沒(méi)有任何特定的添加涂層。在此期間,11個(gè)歐洲聯(lián)盟合作伙伴(3個(gè)研究機構,4個(gè)技術(shù)提供商和5個(gè)市場(chǎng)的終端用戶(hù))共同努力,將我們所有的知識和經(jīng)驗提供給集團,從而豐富了整個(gè)周期中的每個(gè)過(guò)程。研究機構技術(shù)供應商最終用戶(hù)在這種情況下,特別是Sensof...

    • 20245-29
      Sensofar與JH Technologies合作,在美國推動(dòng)計量工業(yè)檢測解決方案

      Sensofar與JHTechnologies合作,在美國推動(dòng)計量工業(yè)檢測解決方案JHTechnologies將在美國13個(gè)州分銷(xiāo)和支持Sensofar。JHTechnologies,一家的光學(xué)和數字成像系統分銷(xiāo)商,最近宣布與先進(jìn)的表面表征系統制造商Senfaro建立銷(xiāo)售、營(yíng)銷(xiāo)和服務(wù)伙伴關(guān)系。這一戰略伙伴關(guān)系提供了高分辨率非接觸式三維表面輪廓儀的互補共焦,干涉,變焦,光譜反射計技術(shù)。光學(xué)輪廓儀已經(jīng)由Senfar開(kāi)發(fā)用于測量光滑到非常粗糙的表面,并且可以在JHTechnolog...

    • 20245-29
      Sensofar 將于7月在西班牙 Atapuerca 考古挖掘現場(chǎng)助力

      Sensofar將于7月在西班牙Atapuerca考古挖掘現場(chǎng)助力SensofaratAtapuerca作為我們與FundaciónAtapuerca基金會(huì )和IPHES(CatalanInstituteofHumanPaleoecologyandSocialEvolution,加泰羅尼亞人類(lèi)古生態(tài)學(xué)和社會(huì )進(jìn)化研究所)合作的一部分,我們的同事和專(zhuān)家NataliaBermejo和SaraAguado將于今年7月在挖掘開(kāi)放季節期間前往Atapuercaarchaeologicals...

    • 20245-29
      全新軟件解決方案:SensoPRO LT

      全新軟件解決方案:SensoPROLTSensofar將開(kāi)始將最新開(kāi)發(fā)的軟件SensoPROLT推出市場(chǎng)。該軟件主要用于生產(chǎn)和質(zhì)量控制測量的數據分析,擁有適用于各種應用需求的具體模塊或插件。目前提供的版本專(zhuān)門(mén)適用于LED行業(yè),能夠測量臺階高度和粗糙度等標準參數。目前正在開(kāi)發(fā)適用于IC包裝行業(yè)的專(zhuān)用模塊,能夠實(shí)現BGA凸起、過(guò)孔、銅線(xiàn)、耐焊性的測量和固定尺寸分析。此外,還能根據客戶(hù)要求針對其他行業(yè)需求簡(jiǎn)單地個(gè)性化定制新的模塊。提供更多簡(jiǎn)便、精準的解決方案是Sensofar的關(guān)鍵...

    • 20245-28
      全新 Linnik 干涉物鏡

      全新Linnik干涉物鏡Sensofar十分高興地宣布推出可選模塊Linnik干涉物鏡。Linnik物鏡設計用于獲得位于透明材料深處的表面或很難接觸到的表面的干涉圖像。Linnik物鏡的光機械設計包含兩種相同的物鏡——一種是用于參考表面的物鏡,另一種是用于需檢測表面的物鏡。結合兩種明場(chǎng)物鏡提供了各種可能性??梢允褂贸L(cháng)工作距離(SLWD)物鏡、高數值孔徑物鏡、水浸物鏡或具有傳統干涉儀不具備規格的任何物鏡組。物鏡組可以是兩個(gè)50x放大倍率的SLWD,用于測量PSI傾斜表面,例如...

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