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    Sensofar 副總裁參與制定新的 ISO 25178 標準

    更新時(shí)間:2024-05-28點(diǎn)擊次數:173

    Sensofar 副總裁參與制定新的 ISO 25178 標準

    Artigas 博士正全身心地投入在新ISO 25178 標準:產(chǎn)品幾何量技術(shù)規范(GPS)——表面結構:區域的制定工作中。ISO 25178將是將3D 表面測量方法的規范和測量納入考量的國際標準,并將包含目前適用于非接觸式測量方法且行業(yè)常用的標準,而之前的標準在ISO 9000質(zhì)量體系框架中至今一直缺少支持質(zhì)量審查的標準。

    新標準包含七個(gè)章節,由NIST(美國國家標準技術(shù)研究所)、NPL(英國國家物理實(shí)驗室)和PTB(德國聯(lián)邦物理技術(shù)研究院)等眾多科學(xué)機構編寫(xiě)制定。

    ISO 25178 標準包括有關(guān)3D 測量的基本定義以及可根據不同現有技術(shù)的分類(lèi)計算的主要參數。第6 章的主要內容是普遍用于測量表面的方法和技術(shù)的分類(lèi),其中Artigas 博士具體描述了成像共聚焦顯微鏡(ICM)的方法。


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