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    Sensofar共聚焦白光干涉儀

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    全新設計的Sensofar共聚焦白光干涉儀 S neox區別于傳統白光干涉儀,將共聚焦、干涉和多焦面疊加技術(shù)融于一身,測量頭內無(wú)運動(dòng)部件。能夠測量不同的材質(zhì),結構,表面粗糙度和波度,幾乎涵蓋所有類(lèi)型的表面形貌。它的多功能性能夠滿(mǎn)足廣泛的三維形貌,測量應用。Sensofar的核心是將3種測量方式融于體,確保了其優(yōu)異的性能。配合SensoSCAN軟件系統,用戶(hù)將獲得出色的直觀(guān)操作體驗。

    產(chǎn)品型號:S neox
    更新時(shí)間:2024-06-25
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    訪(fǎng)問(wèn)量:595

    感受3D體驗,Sensofar共聚焦白光干涉儀S neox,為您展現全新的3D立體形貌。

    全新設計的3D光學(xué)輪廓儀S neox傳統,將共聚焦、干涉和多焦面疊加技術(shù)融于一身,測量頭內無(wú)運動(dòng)部件。

    Sensofar旗艦型共聚焦白光干涉儀S neox能夠測量不同的材質(zhì),結構,表面粗糙度和波度,幾乎涵蓋所有類(lèi)型的表面形貌。它的多功能性能夠滿(mǎn)足廣泛的形貌,測量應用。Sensofar的核心是將3種測量方式融于體,確保了其的性能。配合SensoSCAN軟件系統,用戶(hù)將獲得難以置信的直觀(guān)操作體驗。

    SENSOFAR公司作為共聚焦白光干涉儀設備的**者,開(kāi)創(chuàng )性地將共聚焦和干涉技術(shù)結合在起,無(wú)需插拔任何硬件就可以在軟件內自動(dòng)實(shí)現共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換。使客戶(hù)無(wú)需花費高昂的費用就能同時(shí)擁有共聚焦顯微鏡和干涉儀。

    SENSOFAR在1999年創(chuàng )立之初,就是以三維表面形貌測量為主要研發(fā)方向,通過(guò)持續不斷地研發(fā)和申請利技術(shù),在范圍內創(chuàng )造了數百種表面形貌測量應用產(chǎn)品,積累了豐富的技術(shù)實(shí)力。


    Sensofar共聚焦白光干涉儀特點(diǎn)及優(yōu)勢:

    1. 共聚焦模式

    共聚焦技術(shù)可以用來(lái)測量各類(lèi)樣品表面的形貌。它比光學(xué)顯微鏡有更高的橫向分辨率,可達0.10um.利用它可以實(shí)現臨界尺寸的測量。當用150倍、0.95數值孔徑的鏡頭時(shí),共聚焦在光滑表面測量斜率達70°(粗糙表面達86°)。

    共聚焦算法保證Z軸測量重復性在納米范疇。

    2. 相位差干涉模式

    相位差干涉是一種亞納米級精度的用于測量光滑表面高度形貌的技術(shù)。它的優(yōu)勢在于任何放大倍數都可以保證亞納米級的縱向分辨率。使用2.5倍的鏡頭就能實(shí)現超高縱向分辨率的大視場(chǎng)測量。

    3. 白光干涉干涉模式

    白光干涉是一種納米級測量精度的用于測量各種表面高度形貌的技術(shù)。它的優(yōu)勢在于任何放大倍數都可以保證納米級的縱向分辨率。

    4. 多焦面疊加模式

    多焦面疊加技術(shù)是用來(lái)測量非常粗糙的表面形貌。根據我們在共聚焦和干涉技術(shù)融合應用方面的豐富經(jīng)驗,特別設計了此功能來(lái)補足低倍共聚焦測量的需要。該技術(shù)的亮點(diǎn)是快速(mm/s)、掃描范圍大和支援斜率大(86°)。此功能對工件和模具測量特別有用。

    5. 真彩色共聚焦圖像

    每個(gè)像素點(diǎn)都能還原真實(shí)的色彩。在掃描時(shí)紅、綠、藍三色LED交替照明,并將三張單色的圖片還原成一幅高分辨率的彩色圖像。相比其他品牌采用像素插值算法,S neox用這種技術(shù)獲得的圖片色彩保真度和還原性更勝。

    Sensofar共聚焦白光干涉儀

    6. 3D形貌的新體驗

    超清晰的細節,用高分辨率的攝像頭將共聚焦的圖像精彩呈現。

    Sensofar共聚焦白光干涉儀
    7. 超清晰的細節

    將納米世界呈現給您,用高分辨率的攝像頭將共聚焦的圖像精彩呈現。

    Sensofar共聚焦白光干涉儀

    8. 多樣的配置方案-平臺尺寸(從4寸到12寸)。

    標準支架:

    Sensofar共聚焦白光干涉儀

    超大尺寸支架:

    Sensofar共聚焦白光干涉儀


     

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