PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對單個(gè)納米結構進(jìn)行操縱和電學(xué)測量

PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實(shí)驗樣品原位加熱。

ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過(guò)程中實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品表面形貌的變化產(chǎn)品介紹ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍?zhuān)铀匐妷涸?-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實(shí)現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗。原位拉伸臺參數載荷范圍：0-1000N位移分辨率：2

蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身，是能實(shí)現從微米到納米微加工的成像加工系統。

蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)結合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。

蔡司 GeminiSEM系列場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無(wú)論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿(mǎn)足您的需求。創(chuàng )新的電子光學(xué)系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。